熱電阻溫度計選型

熱電(dian)阻(RTD)溫度計，適(shi)用于(yu)衛生和無菌應用場合

公制型儀(yi)表，采用(yong)(yong)通用(yong)(yong)技術

適用于所(suo)有標準應用場合，帶固定(ding)不(bu)可(ke)更換鎧(kai)裝 芯子

熱電阻溫度計選型

應用

• 專(zhuan)門設(she)計用于食品&飲料和(he)生命科(ke)學(xue)行業中的衛生和(he)無菌應用場合(he)

• 測量范圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大(da)壓力(li)為 50 bar (725 psi)

• Z高防護等為 IP69K

• 可以在非防爆區(qu)域中使用

測量原理

1。

通常，有兩種不同類型的鉑(bo)熱電阻(zu)：

• 繞(rao)線式(WW)：由兩根細的(de)(de)高(gao)純度鉑(bo)絲(si)在陶瓷(ci)(ci)載體內(nei)繞(rao)制(zhi)而成(cheng)，并通(tong)過(guo)陶瓷(ci)(ci)保(bao)護層在載體頂部 和(he)底部對(dui)鉑(bo)絲(si)進(jin)行密封處(chu)理(li)。此類(lei)熱(re)電(dian)阻(zu)具有高(gao)可(ke)重(zhong)現性(xing)，過(guo)程溫度高(gao)達 600 °C (1112 °F)時， 仍能保(bao)證(zheng)良好的(de)(de)阻(zu)抗(kang)(kang)-溫度關(guan)系的(de)(de)長期穩定性(xing)。繞(rao)線式(WW)熱(re)電(dian)阻(zu)的(de)(de)體積(ji)較大(da)，抗(kang)(kang)振性(xing)較差。

• 薄(bo)膜式鉑電阻(zu)溫度計(TF)：在(zai)真空狀(zhuang)態下(xia)，將(jiang)厚度約為(wei) 1 μm 的超高純度鉑層(ceng)(ceng)汽化(hua)固定在(zai)陶瓷基 板上，光(guang)刻制作而成(cheng)。由(you)此構成(cheng)的鉑導(dao)體形成(cheng)測量阻(zu)抗。附加覆蓋層(ceng)(ceng)和鈍化(hua)層(ceng)(ceng)可(ke)靠保護(hu)薄(bo)鉑 層(ceng)(ceng)，防(fang)止高溫條件下(xia)出現氧化(hua)和污染。

薄(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)與繞線(xian)式(WW)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)相比(bi)，突(tu)出優(you)點為較小的(de)(de)體積(ji)和較好的(de)(de)抗(kang)振性。高(gao)溫(wen)條件 下，薄(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)(de)阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗(kang)-溫(wen)度(du)(du)(du)關系偏差較小，符合 IEC 60751 標準。因此，薄(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)的(de)(de)溫(wen)度(du)(du)(du)測(ce)量誤(wu)差可(ke)達溫(wen)度(du)(du)(du)等(deng) A，符合 IEC 60751 標準(Z高(gao)溫(wen)度(du)(du)(du)約為 300 °C (572 °F))。所以(yi)， 薄(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)通常僅(jin)在溫(wen)度(du)(du)(du)低于 400 °C (752 °F)的(de)(de)條件下測(ce)量。

Endress+Hauser 提供用(yong)于溫度測(ce)量(liang)點的(de)整套優(you)化(hua)部件，包括將測(ce)量(liang)點無縫集成至整個工廠中的(de)所(suo) 有所(suo)需部件。包括：

• 電源(yuan)單元/隔(ge)離柵

• 顯示單元

• 過電壓保(bao)護單元