采購熱電阻溫度計

熱電阻(zu)(RTD)溫度計，適(shi)用(yong)于衛生和無(wu)菌應用(yong)場合(he)

公制型儀表(biao)，采(cai)用(yong)通用(yong)技術(shu)

適用(yong)于所有(you)標準應用(yong)場(chang)合，帶固定不可更換鎧裝 芯(xin)子

采購熱電阻溫度計

應用

• 專門設計用于(yu)食品&飲料(liao)和(he)生(sheng)命科學行業中的衛(wei)生(sheng)和(he)無菌應(ying)用場合

• 測量范圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大壓力為 50 bar (725 psi)

• Z高防護等(deng)為 IP69K

• 可以(yi)在非(fei)防(fang)爆區域中使用

模塊化變送器

相(xiang)比(bi)于(yu)不經過溫度(du)變(bian)送(song)(song)器而直接(jie)接(jie)線的測(ce)量(liang)方(fang)法，Endress+Hauser 能(neng)為用(yong)戶提(ti)供 高(gao)測(ce)量(liang)精度(du)、高(gao)測(ce)量(liang)可(ke)靠性的溫度(du)變(bian)送(song)(song)器。根據實際工(gong)況條件，選擇下(xia)列信號輸(shu)出 和通信方(fang)式(shi)：

4…20 mA HART®模(mo)擬量輸出

優勢(shi)

• 高性(xing)價比和發貨迅速

• 用(yong)戶友好且(qie)可靠的從產品(pin)選型(xing)至維護過程(cheng)

• 認(ren)證(zheng)(zheng)：衛生型(xing)標(biao)準，符合 3-A®認(ren)證(zheng)(zheng)、EHEDG 測試、ASME BPE 認(ren)證(zheng)(zheng)、FDA 認(ren)證(zheng)(zheng)、TSE 適用性認(ren)證(zheng)(zheng)

• 提供(gong)多(duo)種過程連接

測(ce)量(liang)原理(li)

熱電阻(RTD)

熱電阻采用符(fu)合 IEC 60751 標準(zhun)的 Pt100 溫(wen)(wen)度(du)傳(chuan)感器。溫(wen)(wen)度(du)傳(chuan)感器為(wei)溫(wen)(wen)度(du)敏(min)感性(xing)鉑熱電阻，阻抗 為(wei) 100 ? (0 °C (32 °F)時)，溫(wen)(wen)度(du)系數為(wei) α = 0.003851 °C-1。

通(tong)常，有兩種不(bu)同類型的鉑熱電(dian)阻(zu)：

• 繞線(xian)式(WW)：由兩根細的(de)高純度(du)鉑(bo)絲(si)在陶(tao)瓷載體內繞制而成(cheng)，并通過陶(tao)瓷保護層在載體頂部(bu) 和底部(bu)對(dui)鉑(bo)絲(si)進行密封處理。此類熱(re)電阻具有(you)高可重現(xian)性(xing)，過程溫度(du)高達 600 °C (1112 °F)時， 仍能保證良好的(de)阻抗(kang)(kang)-溫度(du)關系的(de)長期穩定(ding)性(xing)。繞線(xian)式(WW)熱(re)電阻的(de)體積(ji)較(jiao)大，抗(kang)(kang)振性(xing)較(jiao)差。

• 薄膜式鉑(bo)電阻溫度(du)計(TF)：在真空狀態下，將厚(hou)度(du)約為 1 μm 的超(chao)高純度(du)鉑(bo)層(ceng)(ceng)汽化固定在陶瓷基 板上，光刻制作而成(cheng)。由此構成(cheng)的鉑(bo)導體形成(cheng)測量阻抗(kang)。附加覆蓋層(ceng)(ceng)和鈍化層(ceng)(ceng)可靠(kao)保(bao)護薄鉑(bo) 層(ceng)(ceng)，防止高溫條(tiao)件下出現氧化和污染。

薄膜式(shi)(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻與繞線式(shi)(shi)(WW)熱(re)電(dian)阻相(xiang)比，突出優點為較小的體(ti)積和較好的抗(kang)振性。高(gao)溫條(tiao)件(jian) 下(xia)，薄膜式(shi)(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻的阻抗(kang)-溫度關系偏(pian)差較小，符合 IEC 60751 標準。因此，薄膜式(shi)(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻的溫度測量誤差可達(da)溫度等 A，符合 IEC 60751 標準(Z高(gao)溫度約(yue)為 300 °C (572 °F))。所以， 薄膜式(shi)(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻通常僅(jin)在溫度低(di)于(yu) 400 °C (752 °F)的條(tiao)件(jian)下(xia)測量。