熱電阻溫度計

• 專(zhuan)門設計用于食(shi)品&飲料(liao)和(he)生命科學(xue)行業(ye)中的衛生和(he)無(wu)菌應(ying)用場合

• 測(ce)量范圍為(wei)–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大壓(ya)力為 50 bar (725 psi)

• Z高防護等為 IP69K

• 可以在(zai)非防爆區(qu)域中(zhong)使用(yong)

模塊化(hua)變(bian)送器

相比(bi)于(yu)不經過溫度變送器(qi)而直接(jie)接(jie)線(xian)的(de)測(ce)(ce)量(liang)方法，Endress+Hauser 能(neng)為用戶提供 高測(ce)(ce)量(liang)精度、高測(ce)(ce)量(liang)可靠性的(de)溫度變送器(qi)。根據實際工況條件，選擇下列(lie)信(xin)號輸出 和通(tong)信(xin)方式：

4…20 mA HART®模擬量輸(shu)出

優勢

• 高性價比和發貨迅速

• 用戶(hu)友好且可靠的從(cong)產品選型至維護過(guo)程

• 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)：衛生型標準(zhun)，符合 3-A®認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、EHEDG 測試、ASME BPE 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、FDA 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、TSE 適用性認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)

• 提供多種過程連接

熱電阻溫度計

測量(liang)原(yuan)理

熱電阻(RTD)

熱電(dian)阻(zu)采用符合(he) IEC 60751 標準(zhun)的(de) Pt100 溫度傳感器(qi)。溫度傳感器(qi)為溫度敏感性(xing)鉑熱電(dian)阻(zu)，阻(zu)抗(kang) 為 100 ? (0 °C (32 °F)時(shi))，溫度系數(shu)為 α = 0.003851 °C-1。

通常，有兩種(zhong)不同類型的鉑熱(re)電(dian)阻：

• 繞(rao)線式(shi)(WW)：由兩根細的(de)(de)(de)(de)高(gao)純(chun)度(du)鉑絲在陶瓷(ci)(ci)載(zai)體內繞(rao)制而成，并通過陶瓷(ci)(ci)保護(hu)層在載(zai)體頂部(bu) 和底部(bu)對(dui)鉑絲進行密封處理。此(ci)類熱電阻(zu)(zu)具有高(gao)可重現性(xing)，過程溫(wen)度(du)高(gao)達 600 °C (1112 °F)時， 仍能(neng)保證(zheng)良(liang)好的(de)(de)(de)(de)阻(zu)(zu)抗-溫(wen)度(du)關系的(de)(de)(de)(de)長期穩定性(xing)。繞(rao)線式(shi)(WW)熱電阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)(de)體積(ji)較大，抗振性(xing)較差。

• 薄(bo)膜式鉑(bo)電(dian)阻溫(wen)度計(TF)：在(zai)(zai)真(zhen)空狀態下(xia)，將(jiang)厚(hou)度約(yue)為 1 μm 的超(chao)高純(chun)度鉑(bo)層(ceng)汽化(hua)(hua)固(gu)定在(zai)(zai)陶瓷基 板上，光刻制作而成。由此構成的鉑(bo)導(dao)體形(xing)成測量阻抗。附加覆(fu)蓋層(ceng)和(he)鈍化(hua)(hua)層(ceng)可靠保(bao)護薄(bo)鉑(bo) 層(ceng)，防止高溫(wen)條件(jian)下(xia)出現氧(yang)化(hua)(hua)和(he)污(wu)染(ran)。

薄(bo)(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電阻(zu)(zu)與繞線(xian)式(WW)熱(re)電阻(zu)(zu)相比，突出優點為(wei)(wei)較小的(de)(de)體積和(he)較好的(de)(de)抗振性。高(gao)(gao)溫(wen)條(tiao)(tiao)件 下，薄(bo)(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電阻(zu)(zu)的(de)(de)阻(zu)(zu)抗-溫(wen)度(du)關系偏差(cha)較小，符合 IEC 60751 標準。因此，薄(bo)(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電阻(zu)(zu)的(de)(de)溫(wen)度(du)測量誤差(cha)可達溫(wen)度(du)等 A，符合 IEC 60751 標準(Z高(gao)(gao)溫(wen)度(du)約為(wei)(wei) 300 °C (572 °F))。所以， 薄(bo)(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電阻(zu)(zu)通常僅在溫(wen)度(du)低(di)于 400 °C (752 °F)的(de)(de)條(tiao)(tiao)件下測量。